Camtek Ltd., вместе со своими дочерними предприятиями, занимается разработкой, производством и продажей оборудования для инспекции и метрологии, используемого в полупроводниковой промышленности. Среди ключевых решений компании — система Eagle-i, обеспечивающая двухмерный контроль качества и метрологические измерения, а также Eagle-AP, предназначенная для передовых технологий упаковки микросхем, которая объединяет программное и аппаратное обеспечение для высокоточной 2D- и 3D-инспекции на одной платформе. читать дальше
Camtek также внедрила технологии автоматической классификации дефектов, использующие методы глубокого обучения для анализа цветных изображений, что позволяет существенно снизить или полностью исключить ручную проверку. В портфеле компании есть и другие решения: MicroProf AP — инструмент метрологии wafer на этапах 3D-упаковки; MicroProf DI — оптическая система для инспекции структурированных и неструктурированных wafer; MicroProf FE — 2D/3D-метрологический инструмент для фронт-энд производств высокой мощности; MicroProf FS — конфигурируемый метрологический инструмент для foundry wafer; MicroProf PT — инструмент для гибридной метрологии стандартных панелей; MicroProf MHU — устройство для работы с материалами в полупроводниковой, MEMS, сапфировой и LED-индустрии; MicroProf TL — оптический инструмент для полностью автоматических 3D-измерений поверхности; MicroProf 100, 200, 300 — универсальные метрологические системы для измерения топографии и толщины пленок и образцов, включая технологию SurfaceSens для контроля качества и поддержки производственных процессов.
Продукция Camtek находит применение у производителей полупроводников, компаний по аутсорсингу сборки и тестирования (OSAT), интегрированных производителей микросхем (IDM) и субподрядчиков по wafer-level упаковке. Она была основана в 1987 году, а её штаб-квартира находится в Migdal Haemek, Израиль.